Closed tender

Scanning electron microscopes

Details

Buyer
Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe
Topic
Scanning electron microscopes
Published
19 April 2018
Submission
22 May 2018

Tender description

Rasterelektronenmikroskop mit einem Kathodolumineszenz-Detektionssystem zur Untersuchung von Materialien mit Substratgrößen von 3x3 mm2 bis 4“ und einer Dicke von bis zu wenigen Millimeter. Das Gesamtsystem besteht aus einem Rasterelektronenmikroskop, einem Kathodolumineszenz-Detektionssystem und einer Software für die experimentelle Steuerung beider Einheiten sowie zur Analyse der Messdaten. Rasterelektronenmikroskop mit einem Kathodolumineszenz-Detektionssystem zur Untersuchung von Materialien mit Substratgrößen von 3x3 mm2 bis 4“ und einer Dicke von bis zu wenigen Millimeter. Das Gesamtsystem besteht aus einem Rasterelektronenmikroskop, einem Kathodolumineszenz-Detektionssystem und einer Software für die experimentelle Steuerung beider Einheiten sowie zur Analyse der Messdaten.

Timeline

  1. Completed: Tender published19 April 2018
    Current notice
  2. Completed: Submission date22 May 2018

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