Scanning electron microscopes

Tender description

Mit Hilfe des „environmental“ Rasterelektronenmikroskop (ESEM) sollen Proben im Niedervakuummodus untersucht werden. In Standard Rasterelektronenmikroskopen liegen Hochvakuumbedingungen in der Probenkammer vor, „variable pressure“ (VP) Rasterelektronenmikroskope erlauben Betriebsdrücke bis zu maximal 500 Pa. In einem ESEM kann bei Drücken bis zu 4 000 Pa gearbeitet werden. Verwendugszweck des Gerätes sind Untersuchungen von Phasenumwandlungen von Wasser sowie dessen Wechselwirklungen mit mineralischen Oberflächen auf der Nanoskala. Ein Beispiel mit hoher Relevanz für die Klimaforschung wäre die Untersuchung der Rolle von Aerosolpartikeln für die Entwicklung von Eiskeimen in Wolken, welche von zentraler Bedeutung für Niederschlagsbildung sind. Für die hierfür erforderlichen elektronenmikroskopischen Untersuchungen können nur mit einem ESEM-System durchgeführt werden, das hochauflösende Abbildung der Oberfläche bei verhältnismäßig hohen Wasserdampfdrücken und tiefen Temperaturen ermöglicht.